日前，sem电镜扫描成分分析的话题受人关注，并且与之相关的SEM扫描电镜分析同样热度很高。今天，康晓百科便跟大家说一说这方面的相关话题。

sem电镜扫描成分分析(SEM扫描电镜分析)

导读目录如下：

fesem分析是指什么？

FESEM是（field emission scanning electron microscopy）的简写，意思是场发射扫描电子显微镜；SEM是(scanning electron microscopy) 的简写，意思是扫描电子显微镜。FESEM和SEM的简单区别就是发射电子的装置不一样，一个使用灯丝，一个使用的场发射。场发射能量高，电子束可以更细。

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。

EDS及XRD的性能区别？

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。

XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。

SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样 品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。

图像为立体形象，反映了标本的表面结构。

EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。 XRD是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。 说简单点，SEM是用来看微观形貌的，观察表面的形态、断口、微裂纹等等；EDS则是检测元素及其分布，但是H元素不能检测；XRD观察的是组织结构，可以测各个相的比例、晶体结构等。

sem是扫描电镜吗？

sem不是扫描电镜，是搜索引擎营销意思

英文Search Engine Marketing ，我们通常简称为“SEM”。简单来说，搜索引擎营销就是基于搜索引擎平台的 *** 营销，利用人们对搜索引擎的依赖和使用习惯，在人们检索信息的时候将信息传递给目标用户。搜索引擎营销的基本思想是让用户发现信息，并通过点击进入网页，进一步了解所需要的信息。企业通过搜索引擎付费推广，让用户可以直接与公司 *** 进行交流、了解，实现交易。

sem与tem相比的结构特点？

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy.

　　SEM：即扫描电子显微镜，是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。

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　　SEM的优点：

　　（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。

　　（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。

　　（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

　　（五） 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

　　（六） 电子束对样品的损伤与污染程度较小。

　　（七） 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

　　SEM的缺点：

　　①异常反差。 由于荷电效应，二次电子发射受到不规则影响，造成图像一部分异常亮，另一部分变暗。

　　②图像畸形。 由于静电场作用使电子束被不规则地偏转，结果造成图像畸变或出现阶段差。

　　③图像漂移。 由于静电场作用使电子束不规则偏移引起图像的漂移。 ④亮点与亮线。 带电样品常常发生不规则放电，结果图像中出现不规则的亮点和亮线。

　　TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Tran *** ission Electron Microscope.

　　TEM：即透射电子显微镜，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”

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　　TEM的优点

XRD是什么光谱？

sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识

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